Türkiye Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Kurumu /
Mart 2012
Uzay ortamında çalışacak komponent lehimlemesi yapılmış elektronik kartların,
uluslararası standartlara uygun olarak x-ışını görüntüsü ile kontrolü
Uzay ortamında çalışacak elektronik kart ve modüllerin
elektromikroskopla incelenmesi
5
1,2,3,4,5,6 8,9,10,11,12,13,14,15,16,17,...32